各系统主要技术参数及功能： 1. 透射电子显微系统（TEM）： 加速电压：200kV（Max）； 点分辨率：0.24nm； 灯丝：LaB6； STEM点分辨率：0.2nm（HAADF 模式）

1. 透射电子显微系统（TEM） 功能：形貌衬度，选区衍射，高分辨
2. 扫描透射电子显微系统（STEM）功能：显微形貌，高分辨
3. X射线能谱（EDS） 在STEM模式下，可以进行TEM样品的面扫描，线扫描，点扫描以确定被检测元素的分布，含量和种类。 分辨率：127eV（Mn Kα） 检测元素范围：O-U
4. 能量损失谱系统（EELS） 功能：在EELS模式下，主要用于检测TEM样品的成分，含量，化学态等分析测试，尤其是对超轻元素（如：氢，锂）和轻元素（如：硼，碳和氮等）的检测，分析准确。本系统亦可进行谱-图采集，便于进行元素分布形貌分析。 样品厚度：<50nm

1. 透射电子显微系统（TEM） 2. 扫描透射电子显微系统（STEM） 3. X射线能谱（EDS） 4. 能量损失谱系统（EELS）
主要用于非磁性固体样品微观形貌，晶体结构，元素含量，分布及化学态等的分析测试

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按照时间收费标准： 1.普通透射模式收费标准 800元/h 2. EELS模式收费标准 3000元/h 3. STEM模式收费标准 1500元/h