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仪器资源
集成电路高温动态老化
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仪器分类：其他仪器 -> 其他 -> 其他
型号：ELEA-J
厂商：杭州可靠性仪器厂
所在地区：河南省郑州市二七区
服务次数：0
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服务信息
技术指标
温度变化范围：室温～150℃试验容量：208×16（以DIP14计）信号检测：64路信号示波监测接口，宽范围数字模拟信号频率自动测试、记录电源：可程控VCC、VMUX、VEE电源输出能力：2V～18V/10A
主要功能
可用于中小规模数字及通用模拟集成电路动态老化试验
服务内容
分析检测试验
用户须知
参考管理办法
参考收费标准
协议收费
联系方式
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中国船舶重工集团公司第七一三研究所
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