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X-Ray膜厚仪

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  • 仪器分类:分析仪器 -> X射线仪器 -> X射线能谱仪
    • 型号:XDVM-P
    • 厂商:Fischer
  • 所在地区:河南省郑州市航空港区
  • 服务次数:0

服务信息

测量最小值:0.001μm 对样品非接触、非破坏测量 镀层厚度测试范围: 金(0-8μm) 银(0-40μm) 镍(0-60μm) 锌(0-30μm) 铜(0-25μm) 铝(0-50μm) 铬(0-15μm) 铅(0-60μm) 钯(0-20μm) 锡铅(0-45μm)
非接触式、非破坏式镀层膜厚测试方法,主要测量金属及部分塑料底材上金属镀层的类别、厚度,并可对其合金组分做初步分析,测试范围17~92(Cl~U)元素,对于不规则形状的零件可以测量极小的面积和极薄的镀层厚度,可测量范围: (0.01~75)μm 。
测量金属及部分塑胶底材上金属镀层的类别、厚度或合金组成
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