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双球差校正分析型场发射透射电子显微镜

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  • 仪器分类:分析仪器 -> 电子光学仪器 -> 透射电镜
    • 型号:JEM-ARM300F
    • 厂商:日本电子株式会社
  • 所在地区:河南省郑州市中原区
  • 服务次数:0

服务信息

1. 冷场发射电子枪(肖特基热场不满足),亮度≧1  109 A/cm2/sr (at 300 kV)
2. 加速电压:80-300kV,双球差校正器和整个电镜主机系统均在80kV、200kV、300kV加速电压下完成合轴;电压切换一键完成,无需重新合轴。
3. 加速电压稳定度:≤0.4  10-6/min (peak to peak)
4. 物镜电流稳定度:≤0.5  10-6/min (peak to peak)
5. 束流:冷场枪≥0.6nA@0.136 nm
6. 不使用单色器条件下能量发散度:≤0.35eV@300KV
7. TEM点分辨率(杨氏条纹):0.07nm(300kV);0.09nm(200kV);0.13nm(80kV);
8. TEM晶格分辨率:0.060nm
9. STEM分辨率(FFT spot): 0.063nm(300KV);0.091nm(200kV); 0.105nm(80KV);
对于材料及其表面、界面的微观结构、组成进行原子尺度的表征和研究,解决材料中的复杂结构问题。系统有电子光学系统、高压系统、真空系统、STEM探测系统等部分组成。
1. 主要用于材料透射电镜观察原子的信息;2. 可以直接观察得到原子的真实位置;3. 结合EDS/EELS技术,还可以直接获得原子尺度的成分信息。4.原位状态进行气体和加热条件下的反应研究
通过预约管理系统预约申请,经电镜管理小组审批同意后可安排测试
根据样品情况和测试要求定

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