温度范围：常温，单一炉体
红外检测器：InSb RT ... >1250°C
数据采集速率：最大 2 MHz（同时适用于红外检测器与 pulse mapping 通道）
热扩散系数范围：0.01 mm2/s ... 2000 mm2/s
导热系数：< 0.1 W/(m*K) ... 4000 W/(m*K)
专利的 pulse mapping 技术：用于有限脉冲修正，以及提高比热测量精度
样品支架：适合圆形与方形样品

非接触式测量，IR 检测器检测样品上表面升温过程
数据采集速率：高达 2MHz（包括半升温信号检测，及 pulse mapping 技术）-- 对于高导热及薄膜样品，采样时间（约为半升温时间 10 倍）可低至 1ms，
热扩散系数测量范围：0.01 mm2/s ... 2000 mm2/s
导热系数测量范围：< 0.1 W/(mK) ... 4000 W/(mK）

精确地直接测量热扩散系数和比热，进一步计算得到导热系数。

提前一周预约 方形样品具体尺寸详谈

400元/一个样品