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扫描透射探测器

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  • 仪器分类:分析仪器 -> 电子光学仪器 -> 透射电镜
    • 型号:HADF R-STEM Detector
    • 厂商:TESCAN
  • 所在地区:河南省开封市顺河回族区
  • 服务次数:0

服务信息

分辨率:≤ 0.9nm@30KV
用于研究生物样品中的超微结构、半导体器件的失效分析和材料的表征。
一次可装载观察多个样品;同时获得明场像 ( BF) 、暗场像 (DF ) 和高角暗场像 ( HADF ) ;样品可以上、下移动,以达到最佳成像工作条件;可交换样品台,易于操作,可快速更换试样。
要求样品厚度小于100nm
1200元/h

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