服务信息
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1. Mo靶，陶瓷X射线光管
2. CMOS二维单晶面探仪
3. 三轴测角仪：Phi轴：360°旋转，重复精度≤0.001°；ω轴：-270°-270°，重复精度≤0.0002°；2θ：-148° -159°旋转，重复精度≤0.0002 -
准确、快速测定晶体结构，区分和确定晶体的手征性及空间结构
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测定有机、无机物质的晶体结构，同时可获得样品的晶胞参数、键长，键角，构象，氢键，分子间的堆积作用等信息
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需使用仪器设备时请提前预约，预约时间为周一至周五早上9:00-12:00，下午13:00（13:30）~17:00（17:30）。
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