30 KV分辨率0.8 nm，1 KV分辨率1.3 nm；
最快扫描速度50 ns/像素；
加速电压0.02~30 KV；
放大倍率：10X~1,000,000X；
探针电流：3 pA~20 nA；
5轴优中心样品台。

配备EDS，SE2探测器、HDBSD探测器、STEM探测器；可以进行立体感好的低倍拍摄，分辨率高的高倍成像；对各类样品进行出色的低加速电压成分衬度分析，同时可以进行高分辨率透射电子成像；可以分屏、双放大倍数，又可以双通道使用。可用于各种材料的微观形貌组织观察，材料断口分析和失效分析，广泛用于材料科学（金属材料、非金属材料、纳米材料）、冶金、生物学、医学、半导体材料与器件、地质勘探、刑事侦察、宝石鉴定、工业生产中的产品质量鉴定及生产工艺控制等。

扫描电镜（SEM）广泛地应用于金属材料和非金属材料等检验和研究。在材料科学、金属材料、陶瓷材料半导体材料、化学材料等领域，进行材料的微观形貌、组织、成分分析。各种材料的形貌组织观察，材料断口分析和失效分析，结合EDS可以对材料进行实时微区成分分析，元素定量、定性成分分析。

在满足校内教学科研工作的基础上，对外实行共享，提前电话联系，说明相关的技术指标和样品准备注意事项，并网上预约。

按与客户达成的协议执行