最大输出功率：≥300W
电流电压稳定度：优于0.005% (外电压波动10%)时
光管类型：Cu靶，陶瓷X光管
光管尺寸：标准尺寸，能与其他厂家的光管互换
光管焦斑：0.4 ×12 mm
采用光学编码器技术
扫描方式：/ 立式测角仪，样品水平放置，测量过程中样品不会倾斜。
测角仪半径：≥140 mm
2θ转动范围：-3o～147o
最小步长：≤ 0.002o
半导体阵列探测器

能够精确地对多晶样品进行物相检索分析、物相定量分析、基本参数法线形分析分析、晶胞参数计算和固溶体分析、晶粒及微观应变分析、结构精修以及结构解析。

物相分析。

需粉末样品，提前一周预约。

50元/样