1．分辨率：二次电子像 0.8-1.1nm；分析模式 3.0nm（15kV）；背散射电子像 2.5nm（15kV）；
2．放大倍数：25X-1000000X，粗、细模式连续可调；
3．加速电压：0.02-30 kV连续可调；
4．样品台移动范围：X=Y=130mm；
5．样品室：内部尺寸350mm（宽）×350mm（深），分析工作距离10 mm；
6．EDS附件元素测试范围：Be4～U92。

1．金属、 陶瓷、混凝土、生物、高分子、矿物、纤维等无机或有机固体材料的断口、表面形貌的观察；
2．进行材料表面微区成分的定性和定量分析。

1．形貌观察（SEM）；
2．成分分析（EDS点/线/面扫）。

1．要求样品无毒、无放射性、干燥无污染、热稳定性好、耐电子束轰击；
2．粉体样品：常规粉末直接粘到导电胶上测试；
3．液体样品：可滴到导电胶、硅片或铝箔上，干燥后观测；
4．薄膜或块体：粘贴于导电胶上，露出测试面；
5．磁性样品易损坏电镜，不承接该类样品的拍摄。

1．SEM：200元/样（5张以内，每样限半小时，超出时间每30分钟加收100元）；
2．EDS：50元/样/谱（3区域）。