1光谱仪焦长≥700mm，聚焦镜到CCD探测器的距离≥700mm。
依据：在同等测试条件下，如光栅和狭缝确定下，光谱仪焦长更长，光谱分辨率更高，目前三家以上可提供长焦长的光谱仪设备。
2光谱分辨率：0.4~0.7cm-1，实验条件：采用≤1800刻线光栅，针孔或狭缝宽度≥30um，测量氖灯发光线半高宽，其中585nm处半高宽≤0.7 cm-1，837nm处半高宽≤0.4 cm-1。（需提供盖章的厂家证明并作为验收条款）
依据：光谱分辨率更高，有利于原位光谱的测试
3光谱稳定性：≤±0.02 cm-1，验收方法：测量Si 520.7 cm-1拉曼峰，采用532nm激发，10次连续测量，峰位变化≤±0.02 cm-1。（需提供盖章的厂家证明并作为验收条款）
4光谱重复性：≤±0.02 cm-1。
5灵敏度：硅三阶峰的信噪比≥25:1，并能观察到四阶峰。
6光谱仪采用非球面大尺寸反射镜，光谱范围200-2200nm。

1.1测量纳米材料，催化材料，电化学材料的官能团特征光谱，结构特性光谱，进行成分和结构鉴定，定性分析以及测试显微光致发光光谱。
1.2变温原位催化或电化学原位环境下对材料进行原位结构分析，显微光致发光光谱测试及光谱成像分析，可进行材料的成分分布或是发光的分布二维或三维图。

进行成分和结构鉴定，定性分析以及测试显微光致发光光谱。

液体、固体粉末及薄膜样品均可

对外测试收费
普通测试100元/个原位测试500元/个