最大放大倍数：105万倍 加速电压：300KV
点分辨率：0.20 nm 极限(信息)分辨率：0.14 nm
STEM分辨率：0.19nm 最小束斑尺寸：0.2nm
物镜球差系数Cs：1.2nm

形貌分析
通过形貌分析可获得样品的形貌、粒径、分散性等相关信息，同时还可通过明场像、暗场像对样品的质厚衬度像、衍衬像进行进一步的表征。
结构分析
观察研究材料结构并进行纳米尺度的微分析，如：高分辨晶格条纹像，选区电子衍射，会聚束电子衍射等。
成分分析
可对小到几纳米的微区或晶粒的进行成分分析，可选择性的对样品进行能谱点测、能谱线扫、能谱面分布分析，获得样品中的元素在一个点、一条线、一个面上的分布

材料样品的微观形貌分析，成分分析、结构分析。

送样要求

粉末样品:样品量≥1mg(磁性样品必须由承检方制样)。
液体样品:样品量≥0.5ml(磁性样品必须由承检方制样)。
块体样品:长宽≥3mm,厚度≤100um，超出这个尺寸我们会加收额外费用。

形貌像（非磁）240元每样，形貌像磁性450元每样，能谱、晶格条纹、电子衍射100元每样起。