1.脉冲频率范围1Hz-50MHz；周期范围: 20ns-1s；最小脉冲宽度: 10ns；200MSa/s，5 ns采样率；2.时间分辨发射谱，全谱覆盖，支持100条发射波长连续监测，软件自动获得衰减相关光谱参数；

瞬态电致发光测试系统由高精度瞬态源表和超快光谱测试系统构成。其中的高精度瞬态源表是一种集多种测量和分析功能于一体的半导体参数分析仪，可准确执行电流-电压（IV）测量并具有超快脉冲电源信号的发生和测量，以及对测量结果进行相应分析的相关功能。超快光谱系统可实现激发态分析内能量转换过程的皮秒时间分辨光谱研究和振动态弛豫过程的测量等，对于明确电致发光器件的发光机理及器件结构优化具有重要意义。

QLED动力学分析

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