能量范围：4.5-15 keV，可扩展到19 keV
谱学能量分辨率 ：XANES能量分辨率0.5～1.5 eV，EXAFS能量分辨率1.5～10 eV
重复性：< 50 meV 能量尺度漂移，无需重复单色仪校准
检测限：≤0.5%质量分数EXAFS
光通量：2000000photons/sec @8keV
X射线管：采用Mo靶，高压范围5～40 kV，电流1～40 mA，最高功率≥1.6 kW
探测器：高精度SDD硅漂移探测器，铍窗厚度不大于25 μm，有效探测面积不小于150 mm2;
谱仪噪音控制：<65 dB;
操作软件：基于Labview的系统集成软件（调试，控制，测试，数据采集等），易于和外接设备集成（用户可按需集成其他功能）;

X射线吸收精细结构谱（X-ray absorption fine structure，XAFS）是一种用于研究物质的原子、电子结构的表征方法。通过测量物质对X射线的吸收特性，XAFS提供了关于物质中原子的信息，包括其化学价态、电子轨道、配位环境以及结构对称性等。

材料科学、生物和生命科学、地球科学和环境科学、能源和催化科学、物理学和凝聚态物理学

1，测试样品前请提前14天联系仪器老师告知样品性能与测试要求;
2，粉末样品需提前研磨至200目左右；
3，未知分子结构的样品可通过ICP定量元素含量，待测元素小于1%的样品需要200 mg以上，1%~10%的样品需要100 mg以上，大于10%的样品需要50 mg以上；
4，对于块体和液体样品的测试要求，请咨询仪器老师;
5，有毒，易燃，挥发的粉末/溶剂禁止送样。

2000元/元素
开放测试元素：Mn、Fe、V、Co、Cu、Ni、Ti、Zn、Pt