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原位电学探针测量系统

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  • 仪器分类:分析仪器 -> 电子光学仪器 -> 透射电镜
    • 型号:JE02-ST
    • 厂商:安徽泽攸科技有限公司
  • 所在地区:河南省洛阳市洛龙区
  • 服务次数:0

服务信息

1、兼容HR极靴JEOL F200透射电镜;
2、保证透射电镜原有分辨率;
3、保证电镜原有真空度和性能特征;
4、包含电流电压测试单元:1个;
5、电流测量范围:10nA-30mA,9个量程;
6、电流分辨率:优于100fA;
7、电压输出范围:普通模式士10V,高压模式士150V;
8、探针粗调范围:XY方向2.5mm,Z方向1.5mm;
9、探针细调范围:XY方向18um,Z方向 1.5um;
10、探针细调分辨率:XY方向0.4nm,Z方向0.04nm。
1.使用电学测量功能,可进行透射电镜原位固体电化学研究;
2.使用电学测量及探针操纵功能,可进行氧化物薄膜材料畴结构电场/力学调控;
3.使用探针操纵功能,可进行金属纳米材料高分辨纳米力学研究;
4.使用电学测量功能,可进行纳米器件透射电镜原位电学测量表征。
1.使用电学测量功能,可进行透射电镜原位固体电化学研究;
2.使用电学测量及探针操纵功能,可进行氧化物薄膜材料畴结构电场/力学调控;
3.使用探针操纵功能,可进行金属纳米材料高分辨纳米力学研究;
4.使用电学测量功能,可进行纳米器件透射电镜原位电学测量表征。
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