1、频率范围： 10 Hz 至 30 MHz / 500 MHz / 1 GHz。
2、基本精度： ±0.08% (在典型的测试条件下，如 1 kHz, 1 Vrms, 100 Ω)；阻抗测量范围： ±0.0001 Ω 至 999.9 MΩ (宽范围覆盖，从极低阻抗到极高阻抗)；相位精度： ±0.06° (同样在最佳条件下)
3、测试信号电平范围： 5 mVrms 至 1 Vrms；直流偏置电压： 0 V 至 ±40 V (内置)，通过外置选件可扩展至 ±100 V 或 ±200 V；直流偏置电流： 可通过外置选件提供（如 ±100 mA）。
4、测量速度： 最快 5 ms/点 (在部分频率点和条件下)
接口：GPIB, LAN (LXI-C), USB 用于远程控制和数据传输；标准VGA输出用于外接显示器。
5、测试夹具： 支持多种夹具（如 42941A, 16047E 等），用于不同元器件（SMD、线缆、材料等）的精确测量。
探头： 支持高频探头进行点测。
软件： 内置增强分析功能，并支持与PC软件连接进行更复杂的数据处理。

主要用于精确测量电子元器件、半导体器件和材料的阻抗特性。包括一下几个方面：1、无源元件的阻抗测量；2、半导体器件特性分析；3、材料介电性能测试；4、研发、质量检测与生产测试。

主要用于精确测量电子元器件、半导体器件和材料的阻抗特性。包括一下几个方面：1、无源元件的阻抗测量；2、半导体器件特性分析；3、材料介电性能测试；4、研发、质量检测与生产测试。

1、操作前务必佩戴防静电腕带。连接被测件（DUT）时，务必确保仪器处于待机（Standby）状态且测试信号输出已关闭，严禁在热插拔过程中施加测试信号，以防瞬间过载损坏仪器精密端口或被测件。
2、开机后需预热至少60分钟，待机内电路达到热稳定后再进行测量。每次更换测试线、夹具或环境变化后，必须执行完整的开路、短路和负载（如有）校准（Open/Short/Load Calibration）。
3、合理设置测试条件以防过载：严禁超过仪器最大输入电平（默认1 Vrms）。对于未知阻抗的被测件，应遵循“从低信号电平开始”的原则（如先从0.1 Vrms起）。
4、使用测试夹具（如16047A）时，必须执行夹具补偿（Fixture Compensation） 以消除残留参数影响。将被测件放置在夹具中心并保持稳定连接。
5、需要施加直流偏置（如测量电解电容、变容二极管）时，必须确认被测件能承受所设置的直流电压/电流值。
6、实验结束后，先将仪器切换至待机（Standby）模式，再关闭前面板电源开关，最后断开电源线。轻柔拔下所有测试线缆并妥善盘绕存放，避免折弯或损坏精密接头。

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