1、X 射线光源：最大输出功率 3kW，额定电压 60kV、电流 60mA；光管焦斑 0.4×12mm²；
2、全能矩阵探测器：有效面积 384mm²，最大计数率≥2×10¹³cps，99% 线性范围≥3×10¹¹cps；支持小角（≥0.1°）/ 广角测试，65536 个子探测器，背景≤0.1cps；
3、高分辨测角仪：θ/θ 扫描方式，2θ 范围 - 110°~168°，最小步进与角度重现性均达 ±0.0001°；半径 300mm 保障高分辨率

1．设备用途此设备能够满足运用于共结晶化实验、物质结构和成分分析、晶体取向、纳米材料形貌、聚合物纤维、材料表面分析、孔径分析、晶体缺陷分析、纹理分析、晶粒大小等应用分析，探究其材料本身形成机理和材料微观结构在宏观的特性表现等分析，能够针对以上不同实验方向样品进行完整测试，建立大型综合实验平台。

1、基础测试服务：常规 / 小角 XRD 测试，输出原始图谱、物相检索报告、特征峰参数。
2、进阶测试服务：变温 / 变气氛测试、联用测试、薄膜取向分析，提供数据拟合与深度解读。
3、配套技术支持：样品制备指导（粉末研磨、薄膜制样等）、测试方案定制、仪器操作培训。
4、数据服务：提供图谱导出、格式转换、结构精修等增值服务，解答数据异常问题。

粉末样品：研磨至粒径＜200 目，干燥无团聚，用量≥20mg；
块状样品：尺寸≤10mm×10mm×5mm，表面平整清洁，无磁性；
薄膜样品：需附着在刚性基底上，标明测试面，避免褶皱破损；
特殊样品：易氧化 / 吸湿样品需密封送检，明确测试气氛需求；严禁送检易燃易爆、强腐蚀性样品。
提前 3–7 个工作日预约，明确测试类型、扫描范围、温度 / 气氛条件；
常规测试 3–5 个工作日交付报告，联用 / 深度分析需延长至 5–7 个工作日；
测试后样品保留 1–2 周，逾期未领取将统一处理。

常规广角测试定性200元/样；小角X射线散射300元/样；变温/变气氛测试500元/样；