1.分辨率：
二次电子像（SE）：1.6 nm (1 kV)
背散射电子像（BSE）：3 nm (15 kV)
2.加速电压：
范围：0.1 kV 至 30 kV
低加速电压模式：0.1 kV 至 1 kV，适用于对电子束敏感的样品
3.放大倍率：
范围：10倍至1,500,000倍
连续可调，适用于不同尺度的样品观察
4.探测器：
二次电子探测器（SE）：用于高分辨率成像
背散射电子探测器（BSE）：用于成分对比成像
能谱仪（EDS）：用于元素分析和成分分布
5.样品台：
五轴电动样品台：X、Y、Z、Tilt、Rotation
样品尺寸：最大直径200 mm，最大高度80 mm
样品台倾斜角度：-10°至70°
6.真空系统：
高真空模式：适用于常规样品
低真空模式：适用于含水或非导电样品
真空度：优于1.0 × 10^-5 Pa
7.电子枪：
场发射电子枪：提供高亮度和高稳定性的电子束
电子束电流：0.1 pA 至 100 nA
8.图像处理：
高分辨率数字图像采集
图像处理软件：支持图像拼接、三维重建等功能

高分辨率成像：FE-SEM能够提供纳米级别的高分辨率图像，适用于观察样品的表面形貌和微观结构。
大景深：具有较大的景深，可以清晰地观察到样品的三维结构。
高放大倍率：放大倍率可达到数十万倍，适用于观察微小细节。
低加速电压：可以在低加速电压下工作，减少样品的损伤，适用于对电子束敏感的样品。
能谱分析：结合能谱仪（EDS）可以进行元素分析，确定样品的化学成分。
背散射电子成像：通过背散射电子成像，可以获取样品的成分信息和形貌信息。

形貌观察：提供样品表面形貌的高分辨率图像，适用于材料科学、生物学、地质学等多个领域。
元素分析：通过能谱仪（EDS）进行元素分析，确定样品的化学成分和元素分布。
微区分析：对样品的特定区域进行高精度的分析，适用于研究材料的微观结构和成分。
纳米颗粒分析：适用于纳米材料的形貌和成分分析，广泛应用于纳米科技领域。
生物样品观察：适用于生物样品的高分辨率成像，如细胞、组织等。

样品材料：确保样品干燥、无挥发性、无磁性。对于生物样品，需进行固定和脱水处理。非导电样品需进行镀膜处理（如喷金或喷碳），以减少电荷积累。
样品尺寸：样品尺寸应适合放入显微镜的样品室，通常不超过直径10厘米，高度不超过6厘米。
样品清洁：确保样品表面干净，无油污、灰尘或水分残留，以免污染仪器或影响成像效果。
样品制备：对于需要特殊处理的样品，如切割、抛光等，确保制样过程符合要求，避免引入杂质或损伤样品。
仪器操作：在专业人员的指导下操作仪器，严格按照操作规程进行，避免自行调整参数或拆卸部件，防止设备损坏。
安全防护：实验过程中佩戴必要的个人防护装备，如实验服、手套和护目镜，避免直接接触高压部件或电子束，确保人身安全。
数据管理：测试完成后及时保存并备份数据，清理个人文件，避免占用存储空间。
实验室整洁：使用后清理工作台，妥善处理废弃样品，保持实验室环境整洁。
技术支持：遇到问题及时联系实验室技术人员，切勿自行处理复杂故障。

150元/样品