X射线光源： ·X-射线发生器：最大输出功率：9kW；管电压：20－45kV； 管电流：10－200mA；高压稳定度：±0.01% 测角仪： ·三重光学编码系统：包括θs轴、θd轴和光学编码驱动马达 ·扫描方式：q/q方式 ·θ转动范围：-5°－160° 二维面探测器： ·二维模式测量具有固定（照相）和TDI（扫描）方式，并具有零维、 一维、二维测量模式 ·能量分辨率：340 eV ·具有高计数模式和消荧光模式

主要通过分析样品衍射图谱，获得材料的成分、结构等信息：
·粉末样品的物相定性与定量分析
·样品的晶系、晶粒大小与畸变分析
·Rietveld定量分析
·薄膜样品的物相、多层膜厚度、表面粗糙度，电荷密度分析
·样品的原位变温测试

·粉末样品的物相定性与定量分析
·样品的晶系、晶粒大小与畸变分析
·Rietveld定量分析
·薄膜样品的物相、多层膜厚度、表面粗糙度，电荷密度分析
·样品的原位变温测试

样品限制说明：本仪器不支持单晶样品，不支持含放射性元素，腐蚀性，挥发性物质以及液体样品。

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