服务信息
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X射线吸收谱：
·能量范围：4.95－20.1 keV
·能量分辨率：0.5－1.5 eV @ （7－9 k eV）
·光通量：1，000，000 photons/sec （7－9 keV）
X射线发射谱：
·能量分辨率：1.0－1.5 eV@7－9 keV
·数据重复性＜25 meV能量尺度偏移， 无需进行多次单色校正 -
X射线吸收谱技术（XAFS）主要用于材料元素的化学价态、原子配位环境等分析；X射线发射谱技术（XES）主要用于材料元素的氧化态、电子自旋态等分析：
·材料科学：用于各种材料表征及复杂体系、无序结构、特种材料的研究
·能源材料研究：电极材料在充放电状态下元素价态及配位原子的变化表征
·陶瓷、环境材料、放射性核素、矿物样品等价态和化学配位环境变化的表征
·催化剂表征研究 -
XANES（近边结构）：分析元素价态、电子结构、轨道杂化、自旋态（如 Ti、V、Cr、Mn、Fe、Co、Ni、Cu、Zn 等 3d 元素，部分 4d 元素如 Zr、Mo）。
EXAFS（扩展边结构）：解析配位原子种类、键长、配位数、无序度等局域几何参数。 -
粉末：≥100 mg、200 目、干燥无团聚
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