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单球差校正透射电子显微镜

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  • 仪器分类:分析仪器 -> 显微镜及图像分析仪器 -> 其他
    • 型号:JEM-ARM300F2
    • 厂商:日本电子株式会社
  • 所在地区:河南省郑州市郑东新区
  • 服务次数:0

服务信息

12极子STEM单球差矫正器 WGP极靴,复杂原位实验
300KV/80KV/40kV工作电压 配置高速电子偏转控制模块
Dectris Arina 4D STEM混合像素电子探测器
​​​​​​​59 pm @300kV 分辨率
原子级结构分析:TEM成像、HAADF/ADF/BF成像、电子衍射等;
原子级成分分析:可通过EDS,EELS等实现原子级元素构成以及分布;
可实现针对磁性材料的 Lorentz 模式成像,实现对磁结构的直接分析;
进行能量过滤成像,能量损失谱成像,用于分析元素价态、电子结构等信息;
4D-STEM表征,发展新型空间分辨方法,如叠层成像(Ptychography);在原子尺度下测量电磁场、测量样品内应力分布;
原子尺度下材料在多场(应力、温度和电场等外场)及耦合环境下的原位动态观测
亚埃尺度结构与成分分析:
1、HAADF/ADF/BF成像;
2、原子级结构、成分、缺陷表征;
3、4D-STEM下高时空分辨率表征,叠层成像、材料内部电磁场分布、晶体取向、应变分布表征;
4、多场(应力、温度和电场等)及耦合环境下的原位动态观测。
预约前请联系设备管理员。
3000元/小时
常规原位实验额外加收1000 元/样
EDS额外加收 200元/小时
高端需求另议价:低电压,原位,EELS,4D-STEM等
培训费用 20000元/人次

联系方式

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河南省科学院量子材料与物理研究所 更多仪器>
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