技术指标：1接触模式
2 轻敲模式
3相成像模式
4横向力/摩擦力显微镜
5开尔文探针显微镜
6力曲线 / 力谱测量
7磁力显微镜
8磁场发生器 1.9导电原子力显微镜（C-AFM）
10光电流测绘
11表面电势测量
扫描系统：
1.XY方向分辨率：闭环控制下，不大于0.15nm
2.Z方向分辨率：闭环控制下，不大于0.03nm
3.闭环控制XY方向扫描范围≥100um
4.进针方式：智能自动进针方式

三维形貌观测
表面力学性质测量
电学性质测量
纳米加工功能
薄膜技术分析
多环境适应性
生物样品分析

样品测试表征

提前联系管理人员

材料类常规测试：普通形貌（空气）：350元/h；电学、磁学、力学、液下450元/h。探针自带或按规格收费。其他类或特殊测试：价格协商。