场发射电子枪，加速电压(EHT)范围宽，可实现低电压高分辨成像（1kV–30kV可调）；配备SE2二次电子探测器、Inlens镜筒内二次电子探测器和BSD背散射电子探测器；高真空模式，工作距离SE2: 5–10mm，Inlens: ~5mm；高分辨率成像，低电压下表面细节清晰，高电压下成分衬度明显；配有大样品室，支持大光阑保证足够计数率；能谱(EDS)系统可进行点分析、线扫描及元素面分布分析；温度要求22–24°C，湿度≤65%；平台防震、防磁、防噪音要求

用于文物样品的高分辨微观形貌观测、表面结构分析及微区成分分析；可进行二次电子成像(SE)观察表面形貌、背散射电子成像(BSE)观察成分衬度；配合能谱仪(EDS)可实现微区元素定性与定量分析、元素线扫描及面分布分析

广泛应用于青铜器、陶器、瓷器、玉器、漆器等文物的材质鉴定、制作工艺分析、腐蚀产物研究、修复效果评估等文物保护研究领域

粉末样品需压实、固定，防止真空下飞散；液体、凝胶类样品禁止直接测试；样品牢固固定，防止观测、移动台时脱落，掉落物易划伤物镜、污染镜筒

协议收费