1.高压发生器：最大输出功率4kW，最大电压60kV，最大电流100mA
2.X射线光管：Cu靶，最大功率1.8kW，最大电压50kV，最大电流55 mA
2.测角仪：立式，半径240 mm
3.探测器：1Der能量分辨探测器，能量分辨率≥340 eV，2θ方向通道数127
4.样品台：45位自动进样器

该仪器广泛用于晶体学、材料化学、地质矿产及薄膜器件领域的物相分析与微结构表征。可进行粉末、块体、薄膜等多种形态样品的物相定性/定量分析、结晶度测定、晶胞参数精修；可进行织构/极图分析、残余应力测试、晶粒尺寸与微观应变评估。所配置的多模块光路系统（包括透射、反射、掠入射及二维衍射模式），使其应用扩展到薄膜/外延材料、黏土矿物、聚合物及原位反应体系。在该衍射仪下可以实现从常规粉末衍射到微区/非环境条件下的高分辨X射线散射实验，完成对纳米涂层、电池电极、地质岩芯、药物晶型等复杂样品的无损检测

常规粉末测试、高分辨测试（慢扫）、略入射、应力测试等。

1、粉末样品：样品干燥研磨过200目筛，样品量3~5 g。特殊情况（样品量少/研磨会破坏晶体结构）请提前与管理老师确认。
2、块状样品：样品直径小于40 mm，厚度小于6 mm；需注明测试面，测试面需平整光洁。
3、薄膜样品：尺寸10×10–20×20 mm，表面粗糙度接近纳米级平面，曲面无法测，薄膜与基底界面应清晰完整，二者电子密度有一定差异，且薄膜无脱落、无褶皱；基底衍射峰强干扰时需提前告知。

常规测试（10 min及以内）：90元/样
高分辨测试：300元/样
略入射测试：150元/样
应力测试：800元/样