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场发射透射电子显微镜

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  • 仪器分类:分析仪器 -> 显微镜及图像分析仪器 -> 其他
    • 型号:JEM-F200
    • 厂商:日本电子株式会社
  • 所在地区:河南省郑州市郑东新区
  • 服务次数:0

服务信息

自动进样标配2*100mm2 能谱探头
1900万像素一体相机
STEM BF/DF图像
1.高分辨形貌观察和微区的品体结构分析
2.快速成分分析
3.配合原位样品杆实现应力、高温和电压等外场下原子级成像
利用场发射电子源产生高亮度电子束,实现材料微结构高分辨成像与成分分析,适用于纳米级精密观测。
厚度小于200 nm, 干燥,无毒,无放射性,无挥发性。
1200元/小时
常规原位实验额外加收1000元/样
EDS额外加收 200元/小时
高端需求另议价:低电压,原位等
培训费用 10000元/人次

联系方式

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河南省科学院量子材料与物理研究所 更多仪器>
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