1. 电子枪：超高亮度高稳定度的肖特基热场场发射电子枪，亮度 ≥1.8*109 A/cm2 /sr@200 kV
2. 信息分辨率： ≤ 0.11 nm
3. STEM 分辨率：≤0.14 nm
4. 加速电压： 200 kV
5. 样品台：单、双倾台（ α/β≤ ±35°/±30°）
6. EDS： 四探头超级能谱，能量分辨率：≤136 eV (Mn-Ka)
7. 最大衍射角 ≥12°

材料科学领域：可对金属、合金、陶瓷等多种材料进行全面的微结构分析，包括晶粒尺寸、晶体缺陷（如位错、层错）、界面结构等
纳米技术领域：可对纳米材料（如石墨烯、量子点、纳米管、纳米线等）的尺寸、形貌和结构特征进行分析
化学化工领域：可分析催化剂的微观结构、观察其结构演变
半导体工业：可以清晰显示晶体管栅极结构、界面质量等关键特征
地质学和矿物学：可分析矿物的微观结构、包裹体分布以及界面特征，为理解地质过程提供重要信息

1、Talos F200X 面向材料科学的高分辨 TEM、STEM 和化学分析
2、配备X-FEG 电子枪，适合 STEM、EDS 和高分辨 TEM
3、拥有标准 X-TWIN 物镜极靴，配套 Velox 进行采集和分析
4、Talos F200X 平台把 Super-X EDS 深度集成到系统里
5、具备明场像，暗场像，衍射像和STEM像，配备了能谱仪

样品为电子可透过的样品，通常为无机固体样品（纳米材料，薄膜材料，合金材料等）；非磁性样品；非生物样品；非有机样品；样品导热性良好；样品厚度<200 nm。

自主测样：
8点-21点 【院内：400元】/小时
21点-08点 【院内：300元】/小时
送样检测：
TEM形貌/高分辨晶格 【院内：400元】/小时
STEM模式 【院内：400元】/小时
选区电子衍射(SAED) 【院内：600元】/小时
能谱测试 【院内：600元】/小时