1. 电子枪：超高亮度冷场场发射电子枪，亮度 ≥2.4*109 A/cm2 /sr@200 kV
2. 信息分辨率： ≤ 0.11 nm
3. STEM 分辨率：≤0.14 nm
4. 加速电压： 200 kV
5. 样品杆：单、双倾杆（ α/β≤ ±35°/±30°）、冷杆（-170℃~室温）
6. EDS： 四探头超级能谱，能量分辨率：≤136 eV (Mn-Ka)
7. 最大衍射角 ≥12°

材料科学领域：可对金属、合金、陶瓷等多种材料进行全面的微结构分析，包括晶粒尺寸、晶体缺陷（如位错、层错）、界面结构等
纳米技术领域：可对纳米材料（如石墨烯、量子点、纳米管、纳米线等）的尺寸、形貌和结构特征进行分析
化学化工领域：可分析催化剂的微观结构、观察其结构演变
半导体工业：可以清晰显示晶体管栅极结构、界面质量等关键特征
地质学和矿物学：可分析矿物的微观结构、包裹体分布以及界面特征，为理解地质过程提供重要信息

Talos F200X G2（冷场）能够在原子尺度探索材料的结构与化学成分。在成像能力方面，Talos F200X G2（冷场）同时具备高分辨率的TEM和STEM成像功能，同时还支持查分相位衬度成像（DPC和iDPC），可对电场、磁场等内部场进行可视化观测，实现轻重元素原子的同时成像。因为配备了Super-X集成EDS系统，使得在短时间内获取大范围区域内元素分布的高质量数据成为可能。

样品要求：无机固体样品（纳米材料，薄膜材料，合金材料等）；非磁性样品；非生物样品；非有机样品；样品导热性良好；样品厚度<200 nm

送样检测：
TEM/HRTEM形貌 【院内：400元】/小时
STEM-HAADF形貌 【院内：400元】/小时
选取电子衍射（SAED） 【院内：600元】/小时
EDS能谱测试 【院内：600元】/小时
自主测样：
自主测样08:00-21:00 【院内：400元】/小时
自主测样21:00-07:00 【院内：300元】/小时
高层次人才支持培育计划-1 【院内：240元】/小时
高层次人才支持培育计划-2 【院内：200元】/小时