扫描电镜设备主要技术参数：1、分辨率：二次电子（SE）像分辨率在高真空时：30 kV时优于3.0 nm，3 kV时优于10.0 nm；背散射电子 (BSE) 像分辨率（VP with BSD），30kV时优于4.0nm。2、放大倍数：5倍－100万倍。3、最大试样高度：145mm ，最大试样直径：250mm。
AZtec X-Max 50电制冷型能谱仪分析元素范围：Be4-Cf98。分辨率：20,000cps Mn Kα：≤127eV；FKa：≤66eV；C Ka：≤56eV；其它：≤133eV。最大输入计数：>750,000cps，最大输出计数：>500,000cps。

它可以进行材料的微观形貌、组织、成分分析，各种材料的形貌组织观察，材料断口分析和失效分析，材料实时微区成分分析，元素定量、定性成分分析，快速的多元素面扫描和线扫描分布测量，晶体、晶粒的相鉴定，晶粒尺寸，晶体、晶粒取向测量。

它可以进行材料的微观形貌、组织、成分分析，各种材料的形貌组织观察，材料断口分析和失效分析，材料实时微区成分分析，元素定量、定性成分分析，快速的多元素面扫描和线扫描分布测量，晶体、晶粒的相鉴定，晶粒尺寸，晶体、晶粒取向测量。

正常工作日开放；事前电话联系确认试验内容、试样要求及各种手续要求。

电镜：2000元/试样；能谱：2000元/试样