SE分辨率：3.0 nm (30 kV)，高真空模式;10 nm (3 kV)，高真空模式
BSE分辨率：4.0 nm (30 kV)，低真空模式
放大倍率：×5～×300，000
加速电压：0.3～30 kV
低真空范围：6～270 Pa
最大样品尺寸：直径200 mm
样品台：II型
X ：0～100 mm；Y ：0～50 mm；Z ：5～65 mm；R ：360º；T ：-20～+90º
最大样品高度：80 mm (WD=10 mm)

用于材料科学（金属材料、非金属材料、纳米材料）、冶金、生物学、医学、半导体材料与器件、地质勘探、病虫害的防治、灾害（火灾、失效分析）鉴定、刑事侦察、宝石鉴定、工业生产中的产品质量鉴定及生产工艺控制等。

观察纳米材料、材料断口的分析、直接观察原始表面、观察各个区域的细节、从高到低倍的连续观察、观察生物试样。高分子、陶瓷、混凝土、生物、矿物、纤维等无机或有机固体材料分析；金属材料的相分析、成分分析和夹杂物形态成分的鉴定；可对固体材料的表面涂层、镀层进行分析。进行固体材料的微观形貌分析及组成元素的定性及半定量分析。

请提前一周预约

为未知材料的定性半定量分析及微观形貌：300元/个。 玻璃缺陷分析：不需制样的250元/个 ， 需制样的300元/个。