最大放大： 105万倍 (1,050,000×) 点分辨率： 0.24 nm 加速电压： 200KV 极限(信息)分辨率：0.14 nm 最小束斑尺寸：0.2nm 样品台： 普通台、双倾台 最大倾转角：±40° X射线能谱仪元素分析范围：B5～U92 X射线能谱仪能量分辨率: 130 eV

利用它可进行：（1）形貌分析，它获得非晶材料的质厚衬度像，多晶材料的衍射衬度像和单晶薄膜的相位衬度像(原子像)；（2）结构分析，观察研究材料结构并对样品进行纳米尺度的微分析，如：高分辨电子显微观察，系列欠焦像分析及出射波函数重构、电子衍射，会聚束电子衍射，纳米束衍射、Z-衬度（原子序数）成像等。成分分析：小到几个纳米尺度的微区或晶粒的成分分析。反映样品组织形态的形貌及样品晶格条纹图象，可获得无机材料、有机材料，以及无机有机复合材料，尤其是粉体材料、纳米材料、纳米复合材料的原始形貌, 进行尺度表征及分布表征；也可用于多相金属负载催化剂的晶型识别及粒子大小及其分布的表征。

样品测试、分析检测
提供非磁性干燥样品微区形貌测试分析。

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