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粗糙度测试仪

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  • 仪器分类:计量仪器 -> 长度计量仪器 -> 表面粗糙度基准装置
    • 型号:SURFCOM 475A
    • 厂商:TOKYO SEIMITSU 东京精密
  • 所在地区:河南省安阳市龙安区
  • 服务次数:0

服务信息

1、测量参数:Ra,Rmax,Rz,RMS,Rt,Ry,Rp,Rv,Rc,Rtm,Sm,θa,Pc,tp,WCM,Wc.Sm,WCA,WEM,WE.Sm,WEA。
2、测量范围:最大±400μm。
3、记录纵倍率:100,200,500,1000,2000,5000,10000,20000,50000,100000倍。
4、CUTOFF值:R(0.25,0.8,2.5mm)——驱动速度0.3mm/s。
WCM(0.8,8mm)
WCA(0.08~0.8,0.8~2.5mm) 驱动速度3mm/s。
WE(0~0.8,0~2.5mm)
5、数据输出:RS-232-C。
6、驱动速度:0.03,0.06,0.15,0.3,0.6,1.5,3mm/s。
7、直线度精度:(0.05+1.5L/1000)μm L:测量长度。
8、测定子:型号(0102501)针头金刚石材料5μmR 90°圆锥角。
9、测定力:小于4mN(400gf)。
10、石底盘电动测定台底盘尺寸:600(W)×316(D)mm 测定高度:0~250mm。
11、PICKU移动驱动距离:100mm。
装载有Ra、Rz、Ry、Sm、S、tP等多种粗糙度和波纹度的分析参数,能够分析电子零件的高低落差、膜厚以及面积等。满足多种材料的表面测试
玻璃表面粗糙度
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