1、分辨率：3.0 nm @ 30 KV (SE 与W)
           4.0 nm @ 30 KV (VP  with  BSD )。2、加速电压：0.2-30KV。3、放大倍数：5-1000000 x。4、探针电流：0.5PA-5μA。5、X-射线分析工作距离：8.5mm    35度接收角。6、低真空压力范围：10-400Pa(选配:环扫模式10-3000pa)  用空气或可选的水蒸气。7、工作室：365mm (Φ) x 275 mm (h)。8、5轴优中心自动样品台：X=125mm Y=125mm Z=50mm   
T= -10°- 90°   R=360°(l连续)。9、最大试样高度：145mm   最大试样直径：250mm。10、系统控制：基于Windows 7 的SmartSEM 操作系统

扫描电镜(SEM)广泛地应用于金属材料(钢铁、冶金、有色、机械加工)和非金属材料(化学、化工、石油、地质矿物学、橡胶、纺织、水泥、玻璃纤维)等检验和研究。在材料科学研究、金属材料、陶瓷材料、半导体材料、化学材料等领域进行材料的微观形貌、组织、成分分析，各种材料的形貌组织观察，材料断口分析和失效分析，材料实时微区成分分析，元素定量、定性成分分析，快速的多元素面扫描和线扫描分布测量，晶体、晶粒的相鉴定，晶粒尺寸、形状分析，晶体、晶粒取向测量。

玻璃成分、结石分析

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