1. 灵敏度：

　　低质量数 Li(7): 50 Mcps/ppm;

　　中质量数 Y(89): 160 Mcps/ppm(7700); 240 Mcps/ppm(7700s) ;

　　(高质量数 Tl(205): 80 Mcps/ppm(7700); 120 Mcps/ppm(7700s);

　　2. 检测限：

　　低质量数 Be(9): 0.5 ppt;

　　中质量数 In(115): 0.1 ppt

　　高质量数 Bi(209): 0.1 ppt

　　3. 氧化物干扰: CeO+/Ce+: 1.5 %(7700); 3.0 %(7700s);

　　4. 双电荷干扰: Ce2+/Ce+: 3.0 %

　　5. 同位素比精度: RSD(107Ag/109Ag) 0.1%

　　6. 质谱范围：2 - 260 amu;

　　7 丰度灵敏度

　　低质量端: 5 x 10-7

　　高质量端: 1 x 10-7

检测物质中十几种金属元素含量以及硼、磷等。擅长分析多晶硅杂质。

样品检测、技术咨询等。

样品严格处理，杂质含量符合仪器要求，且必须由我方实验室人员进行仪器操作。

每个元素500元，同时加收样品处理费。