1、功能：真空容量法(真空静态法)，吸附及脱附等温线测定，BJH总孔体积及孔径分布分析，样品真密度测定，t-plot图法微孔分析，MP法微孔分析，HK法微孔分析，BET法比表面积测定(单点及多点)，Langmuir法比表面积测定，t－plot图法外比表面积测定；
2、范围:0.01(m2/g)--至无上限(比表面积)；0.35nm-400nm(孔径)；
3、精度：重复性误差小于±1.5%；
4、样品数量：同时进行2个样品分析和2个样品脱气处理；
5、压力测量：采用压力分段测量的进口双压力传感器，显著提高低 P/Po点下测试精度，0-1000 Torr(0-133Kpa)，0-10 Torr (0-1.33Kpa) ；
6、压力精度：进口硅薄膜压力传感器，精度达实际读数的0.15％，优于全量程的0.15％，远高于皮拉尼电阻真空计精度(一般误差为10％-15％)；
7、分压范围：P/Po 准确可控范围达5×10－6－0.995；
8、极限真空：4×10－2Pa (3×10－4Torr)；
9. 气体流量： ≤100mL/min ；
10. 数字显示，显示精度0.1% 。

1. 吸（脱）附等温曲线测定；
2. 孔径分布测定；
3. BET比表面测定，并可测定吸附常数C值；
4. 比表面快速测定（直接对比法）。

测试粉体及固体比表面积及孔结构。

提前2周预约

200-1000元/个样品