纳米三维形貌仪
收藏- 仪器分类：分析仪器 -> 显微镜及图像分析仪器 -> 图像分析仪
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- 型号：NaniteAFM
- 厂商：NANOSURFNANOSURF公司
- 所在地区：河南省安阳市文峰区
- 服务次数：0
服务信息
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1. 扫描范围：XY方向110umX110um，Z方向22um。
2.噪音水平：小于0.09nm。
样品台尺寸60mmX60mm。
3.样品台能放置最大样品重量5kg。
4.配置微米移动样品台：XY轴移动范围13mmX13mm, 分辨率0.5um。
5.最大样品厚度：18mm。 -
形貌测量模式：应包括静态力模式、动态力模式。
谱线测量模式：应包括力与距离曲线, 振幅–距离曲线, 电压–距离曲线。
高级测量模式与功能：应包括相位成像， 磁力模式、静电力模式、扫描扩展电阻模式（导电力）、力调试模式、纳米刻蚀等。
可实时对测量数据进行不同方法的拉平操作与线性、二维或三维显示。
可分析测量数据的粗糙度、测量二维与三维尺寸、滤波处理等功能。 -
材料表面形貌、谱线等测量。
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用户电话或网络预约，根据材料按要求制作试样。
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