服务信息
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最佳能量分辨率优于0.45 eV；最佳空间分辨率优于20 µm；X射线光电成像（XPI）的最佳空间分辨率优于3 µm；在洁净的银表面采XPS谱，在能量分辨率优于0.6 eV的情况下，灵敏度不低于1M CPS；对于绝缘样品PET来说，在能量分辨率优于0.82 eV的情况下，灵敏度不低于60,000 CPS。
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X射线光电子能谱（XPS）、X射线光电成像（XPI）、单色化X射线源（光斑尺寸200微米至900微米可调）、双束中和能满足绝大部分不导电样品的要求、能量可调（200－4000 eV）的氩离子束刻蚀、离子散射谱（ISS）、反射电子能量损失谱（REELS）。
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纳米材料的表面分析以及深度分析
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科研、教学、企业内部质量控制、企业产品研发等目的需要相关检测数据的申请人，可根据需求对我中心具有的仪器设备进行咨询并提出测试申请。申请人需提前3个工作日向我中心提出申请并提供相关标准及技术要求；我中心调研判断符合共享条件的，通知申请人先进行网上预约，预约成功后中心会与申请人沟通样品要求、测试条件、测试方法、送样时间等信息，并在约定时间内提供检测数据。
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常规分析（扫描3遍）：400(4元素)+80×超出数/样品（扫描5遍，每个样品加50；扫描10遍，每个样品加100）；深度分析（扫描3遍）：400元/层(4元素) +80×超出数/样品（扫描5遍，每个样品加50；扫描10遍，每个样品加100）
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