服务信息
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扫描模式:ScanAsyst成像模式
contact mode(接触模式)
tapping mode(轻敲模式)
Phase imaging(相位成像)
噪音水平:低于0.03nm RMS值
像素点:256*256到5120*5120
采样点:不少于16000点 -
表面形貌观察、尺寸测定、表面粗糙度测定、颗粒度解析、突起与凹坑的统计处理、成膜条件评价、涂层尺寸台阶测定和缺陷分析等。
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表面形貌观察、尺寸测定、表面粗糙度测定、颗粒度解析、突起与凹坑的统计处理、成膜条件评价、涂层尺寸台阶测定和缺陷分析等。
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提前一周预约,遵守学校科研规定。
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薄膜样品:200元/样;粉末样品:300元/样
(单个样品测试时间不超过1小时)
联系方式
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