技术特点
大功率X光源和浸入式磁透镜设计以获取高的检测灵敏度。大平均半径的双聚焦半球能量分析器，可以获得高的谱线能量分辨。专利二维阵列延迟线检测器，可以同时记录光电子的信号强度及其发射位置，亦可以在数秒的时间里获取完整的XPS谱图。专利的同源中和器，具备无阴影荷电中和能力，且对于表面凸凹不平的样品，可实现精确电荷中和。标配单色化Al阳极，亦可选购单色化的Al/Ag双阳极，并且单色化阳极靶可以更换多个新鲜靶点，极大地延长了阳极靶的使用寿命。标配进样室定位光学显微镜，可以在进样预抽真空时定位多样品的分析位置，然后转入分析室实施自动分析。
仪器（AXIS SUPRA+）主要参数：
分析室极限真空：5×10-10 torr；
单色化X射线源：Al kα，最大功率600 W，束斑300×700 μm2；
能量分辨率和灵敏度（Ag 3d5/2）：Ag 3d5/2峰半高宽为0.6 eV时强度大于1,500 kcps;
UPS：灵敏度1,000,000 cps,能量分辨率100 meV@Ag费米边。

对固体样品的元素成分进行定性、定量或半定量及价态分析。 固体样品表面的组成、化学状态分析，广泛应用于元素分析、多相研究、化合物结构鉴定、富集法微量元素分析、元素价态鉴定。此外在对氧化、腐蚀、摩擦、润滑、燃烧、粘接、催化、包覆等微观机理研究；污染化学、尘埃粒子研究等的环保测定；分子生物化学以及三维剖析如界面及过渡层的研究等方面有所应用。

1.样品表面1-12nm的元素和元素质量
2.检测存在于样品表面的杂质
3.含过量表面杂质的自由材料的实验式
4.样品中一种或多种元素的化学状态
5.一个或多个电子态的键能
6.不同材料表面12 nm范围内一层或多层的厚度
7.电子态密度测量

1.设备使用人必须经过专门培训,对仪器的工作原理及使用方法熟知后方可使用。 2.设备使用人必须严格遵守仪器操作规程,爱护仪器设备。 3.设备使用人不得随便拆卸仪器设备。 4.设备使用人应认真填写使用记录,注明使用时间。 5.如发现仪器运转异常应立即停止使用,及时切断电源并报告仪器管理人员,并在记录中注 明故障原因及处理方法,抽实验室负责人签署处理意见。

根据单位内部检测收费标准为基准，按测试项收费，具体可根据服务内容商议调整。